平成12年　　設立者物理学博士 ラクロワ イーヴ（元日本産業技術研究所研究員、当時徳島大学半導体光技術研究員）
　　　　　　が窒化物半導体自動測定技術開発を開始

平成13年　　「ワイ・システムズ」として個人事業登記、窒化物半導体用光学評価装置販売開始

平成14年　　有限会社ワイ・システムズを設立

平成16年　　国内海外青色LED生産用ウェーハマッピング装置YWafer GS3販売開始

平成19年　　「LED・LD関連で評価と検査技術のブランド名作り」でニュービジネス支援賞受賞

平成20年　　半導体評価製品YWafer GS4シリーズ用ウェーハ搬送用ロボット開発

平成22年　　太陽電池材料効率評価技術：キャリア寿命測定方法発明
　　　　　　蛍光体分布測定装置発明、製品化
　　　　　　半導体結晶成長その場観察技術開発開
　　　　　　多数特許出願

平成24年　　成長環境観察製品により、GaInN量子井戸内In組成測定可能性を発表
　　　　　　ノーベル賞受賞者天野教授の研究室でその検査装置が利用される：光で原子レベルの粗さの監視成功

平成25年　　ウェーハマッピング装置YWafer RD8を開発

平成29年　　ロボット用サーボモータ開発開始

平成30年　　半導体評価装置YWafer RD8用の搬送ロボット開発、販売開始

平成31年　　サーボモータの製品化

令和4年　　ワイ・システムズEU市場への展開を目指