透過光源により蛍光体特性をマッピングする測定装置です。
2、4インチまでのウェーハホルダーを設定できます。

ご要望に合わせて装置の個別設計も可能です。

ご要望に応じて、様々な形状やサイズのウェーハに対応させ、測定項目の追加や個別測定なども開発いたします。
詳細は弊社までお問い合わせください。

 

 

  標準仕様の取得:

YWafer YB4 1.01 266.98 KB 2013/01/31

 

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